汎銓今(11)日召開股東常會,由董事長柳紀綸主持。(汎銓提供)
鏡週刊2026.06.11 14:20 臺北時間

瞄準AI光通訊需求 汎銓矽光子設備9月定型

檢測分析廠汎銓今(11)日召開股東會,宣布自主開發的「MSS HG光損偵測定位平台」設備銷售版,預計今年9月完成最終驗證與產品定型,目標年底正式啟動設備銷售,搶攻全球矽光子除錯商機。

AI運算帶動高速傳輸需求,全球半導體產業正積極導入矽光子與共同封裝光學(CPO)架構,以突破傳統電訊號在頻寬、功耗與散熱上的限制。在新一代光通訊元件逐步邁向量產之際,如何快速找出光損來源、提升良率,也成為供應鏈關鍵課題。

檢測分析廠汎銓今(11)日召開股東常會,董事長柳紀綸指出,公司除持續深化先進製程材料分析布局外,也正加速推進矽光子與CPO相關業務商業化,並將其視為未來重要成長引擎。

汎銓表示,矽光子晶片(PIC)、光學引擎(OE)、光纖陣列單元(FAU)及光模組產品,在研發驗證與量產導入過程中,光損問題往往直接影響產品效能、良率與量產效率。公司多年來累積PIC晶圓、PIC晶片、光學引擎及光模組分析與除錯經驗,已成功開發「MSS HG光損偵測定位平台」,協助客戶快速找出漏光位置、耦光異常點及光損根因。

據了解,該平台整合自主研發的紅外線(IR)金相顯微鏡、IR影像感測器、自動耦光模組、雷射量測平台及自動化分析軟體,可在光訊號傳輸過程中即時辨識異常光路區域,協助客戶完成從失效分析到製程改善的除錯流程,適用於PIC晶片、CPO元件、光學引擎及光模組等產品分析需求。

除了提供量測分析服務外,汎銓也進一步將技術平台產品化。公司透露,MSS HG設備銷售版目前已進入最後驗證階段,預計今年9月完成最終驗證與產品定型,並積極展開客戶導入作業,目標今年底前正式啟動設備銷售,鎖定PIC晶圓廠、AI晶片公司、光模組廠及系統廠日益增加的光損除錯需求。

汎銓近年同步建立矽光子分析專利布局,公司指出,目前已取得台灣、美國、日本及韓國等主要半導體市場的「光損偵測裝置」發明專利,相關技術涵蓋100奈米至6000奈米波段的漏光偵測、定位與分析能力。

汎銓去年合併營收21.79億元、年增10.78%,續創歷史新高,不過受新廠區建設、先進設備投資、海外據點擴充及專業人才培育等前期投入影響,全年稅後淨損3,667萬元,每股虧損0.71元。柳紀綸表示,雖然短期獲利承受壓力,但營收持續創高,反映公司在先進製程材料分析與AI晶片研發分析市場的競爭力仍穩步提升。

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